(a) HDGEBA 和 CBMA 的化學(xué)結構[引文 29]。(b) 在涂有 Al2O3 的硅基底上制備環(huán)氧樹(shù)脂樣品的示意圖。資料來(lái)源:《先進(jìn)材......
由于采用了兩個(gè)布拉格放大鏡晶體(中間)和一個(gè)單光子計數探測器(左側),新的 X 射線(xiàn)成像技術(shù)使用的 X 射線(xiàn)劑量要低得多。圖示為樣品。資料來(lái)源:......
上面兩行顯示了布洛赫型和奈爾型斯格明子的預期磁圖像,分別使用了圓形、線(xiàn)性水平(LH)和線(xiàn)性垂直(LV)偏振 X 射線(xiàn)。下一行顯示的是掃描透射 X......
X 射線(xiàn)技術(shù)在醫學(xué)和科學(xué)研究中發(fā)揮著(zhù)至關(guān)重要的作用,可提供無(wú)創(chuàng )醫學(xué)成像并深入研究材料。X 射線(xiàn)技術(shù)的最新進(jìn)展使光束更亮、更強,并能在實(shí)際條件下(......
如今,CD-SAXS(關(guān)鍵尺寸小角X射線(xiàn)散射)是下一代半導體制造的全行業(yè)測量技術(shù)。CD-SAXS由NIST研究人員Wen-Li Wu和Joe K......
X射線(xiàn)無(wú)損檢測是一種用于檢測材料內部缺陷的技術(shù),它在工程領(lǐng)域中應用廣泛。在制造過(guò)程中,材料可能會(huì )出現各種缺陷,如氣孔、裂紋、夾雜物等。這些缺陷會(huì )......
在工業(yè)領(lǐng)域中,X射線(xiàn)應力分析技術(shù)已經(jīng)得到了廣泛的應用。這種技術(shù)可以幫助工程師們快速準確地檢測出材料或構件中存在的應力缺陷,進(jìn)而幫助他們進(jìn)行更加精......
X-射線(xiàn)反射測量法(X-ray reflectometry, XRR)是一種非破壞性的表面和界面分析技術(shù)。該技術(shù)可以測量薄膜的厚度、密度和粗糙度......
高壓X射線(xiàn)晶體學(xué)是一種結合了X射線(xiàn)衍射技術(shù)和高壓技術(shù)的科學(xué)技術(shù)。通過(guò)對物質(zhì)樣品施加高壓,研究人員可以改變材料的結構和性質(zhì),以探索其潛在的應用。而......
X射線(xiàn)是一種廣泛應用于醫療和工業(yè)領(lǐng)域的電磁輻射。雖然大多數X射線(xiàn)是通過(guò)人工產(chǎn)生的,但自然界也存在一些產(chǎn)生X射線(xiàn)的現象。 1. X射線(xiàn)管:X射線(xiàn)......
X射線(xiàn)探測器是一種用于探測X射線(xiàn)的裝置,它在醫學(xué)、科學(xué)和工業(yè)等領(lǐng)域都有著(zhù)廣泛的應用。X射線(xiàn)探測器可以將X射線(xiàn)轉化為電信號,進(jìn)而進(jìn)行數字化處理和成......
在SAXS測試中,單色化、高準直性的X射線(xiàn)光束照射在通過(guò)樣品之后,會(huì )被溶解在溶劑中的大分子散射。這些分子通常不會(huì )像在晶體中那樣有著(zhù)有序、靜態(tài)......