(a) HDGEBA 和 CBMA 的化學(xué)結(jié)構(gòu)[引文 29]。(b) 在涂有 Al2O3 的硅基底上制備環(huán)氧樹脂樣品的示意圖。資料來源：《先進材......
由于采用了兩個布拉格放大鏡晶體（中間）和一個單光子計數(shù)探測器（左側(cè)），新的 X 射線成像技術(shù)使用的 X 射線劑量要低得多。圖示為樣品。資料來源：......
上面兩行顯示了布洛赫型和奈爾型斯格明子的預(yù)期磁圖像，分別使用了圓形、線性水平（LH）和線性垂直（LV）偏振 X 射線。下一行顯示的是掃描透射 X......
X 射線技術(shù)在醫(yī)學(xué)和科學(xué)研究中發(fā)揮著至關(guān)重要的作用，可提供無創(chuàng)醫(yī)學(xué)成像并深入研究材料。X 射線技術(shù)的最新進展使光束更亮、更強，并能在實際條件下（......
如今，CD-SAXS（關(guān)鍵尺寸小角X射線散射）是下一代半導(dǎo)體制造的全行業(yè)測量技術(shù)。CD-SAXS由NIST研究人員Wen-Li Wu和Joe K......
X射線無損檢測是一種用于檢測材料內(nèi)部缺陷的技術(shù)，它在工程領(lǐng)域中應(yīng)用廣泛。在制造過程中，材料可能會出現(xiàn)各種缺陷，如氣孔、裂紋、夾雜物等。這些缺陷會......
在工業(yè)領(lǐng)域中，X射線應(yīng)力分析技術(shù)已經(jīng)得到了廣泛的應(yīng)用。這種技術(shù)可以幫助工程師們快速準確地檢測出材料或構(gòu)件中存在的應(yīng)力缺陷，進而幫助他們進行更加精......
X-射線反射測量法（X-ray reflectometry， XRR）是一種非破壞性的表面和界面分析技術(shù)。該技術(shù)可以測量薄膜的厚度、密度和粗糙度......
高壓X射線晶體學(xué)是一種結(jié)合了X射線衍射技術(shù)和高壓技術(shù)的科學(xué)技術(shù)。通過對物質(zhì)樣品施加高壓，研究人員可以改變材料的結(jié)構(gòu)和性質(zhì)，以探索其潛在的應(yīng)用。而......
X射線是一種廣泛應(yīng)用于醫(yī)療和工業(yè)領(lǐng)域的電磁輻射。雖然大多數(shù)X射線是通過人工產(chǎn)生的，但自然界也存在一些產(chǎn)生X射線的現(xiàn)象。 1. X射線管：X射線......
X射線探測器是一種用于探測X射線的裝置，它在醫(yī)學(xué)、科學(xué)和工業(yè)等領(lǐng)域都有著廣泛的應(yīng)用。X射線探測器可以將X射線轉(zhuǎn)化為電信號，進而進行數(shù)字化處理和成......
在SAXS測試中，單色化、高準直性的X射線光束照射在通過樣品之后，會被溶解在溶劑中的大分子散射。這些分子通常不會像在晶體中那樣有著有序、靜態(tài)......
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