樣品環(huán)境是現(xiàn)代科學(xué)表征分析儀器的重要組成部分，包括（但不限于）溫度場、力學(xué)場、流體場、光照等原位環(huán)境，既可以幫助用戶探索被表征物理量隨單個或多個原位參數(shù)的變化情況，也可以生成被研究參量隨時間的演化信息。
由于本身的應(yīng)用價值和科研學(xué)術(shù)領(lǐng)域?qū)υ谎芯康闹匾?，針對樣品環(huán)境的開發(fā)成為獨立于分析設(shè)備制造的單獨分支。雖然樣品環(huán)境的開發(fā)正在經(jīng)歷突飛猛進(jìn)的階段，但是現(xiàn)階段的表征分析儀器僅能提供小區(qū)域范圍內(nèi)的可控原位環(huán)境（比如，在小于厘米級的空間內(nèi)），這與工業(yè)級應(yīng)用的需求大相徑庭，后者一般需要更大尺度的可控原位環(huán)境。
國科儀器在原有樣品環(huán)境設(shè)計、開發(fā)、制造的基礎(chǔ)上，進(jìn)一步突破，致力于實現(xiàn)更大尺度范圍內(nèi)的可控溫度場、力學(xué)場等原位環(huán)境。
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