X射線(xiàn)衍射方法是研究晶體結構的重要手段之一。高壓X射線(xiàn)衍射實(shí)驗中，樣品尺寸通常較小，且衍射幾何會(huì )受到高壓樣品腔（DAC）的限制，因此該實(shí)驗方法對對X射線(xiàn)光源有較高要求，即要求X射線(xiàn)源同時(shí)具備微焦點(diǎn)、高通量、高能量三大要素。同步輻射光源是目前高壓衍射實(shí)驗使用的主要光源，但其機時(shí)通常較緊張。隨著(zhù)科學(xué)技術(shù)的發(fā)展，傳統的X光機得到了長(cháng)足發(fā)展，不論光源強度還是焦點(diǎn)尺寸都已經(jīng)滿(mǎn)足了高壓實(shí)驗的需要。實(shí)驗室所用的高壓X射線(xiàn)衍射儀在使用時(shí)間上不受限制，為科研人員開(kāi)展高壓衍射實(shí)驗提供了巨大的便利。
本公司針對高壓 X 射線(xiàn)衍射技術(shù)，采用最先進(jìn)的旋轉中心定位方法，成功研制出針對高壓實(shí)驗的專(zhuān)用X射線(xiàn)衍射儀，其獨特的設計可同時(shí)用于高壓粉末和高壓?jiǎn)尉煞N實(shí)驗，實(shí)現一機兩用。
1、 可選微焦斑M(jìn)o靶（17kev）,Ag靶材（22 kev），同時(shí)可選針對高壓實(shí)驗的高能液態(tài)金屬I(mǎi)n光源（24 kev），X 射線(xiàn)光源具有聚焦后樣品處光斑小，光通量大和波長(cháng)短等特點(diǎn)。
2、 大面積、單光子計數探測器提高衍射數據分辨率，獲得更多的衍射峰數量，提高晶體結構的分辨率。配備CdTe單光子計數型探測器，大幅提高對短波長(cháng)射線(xiàn)的探測效率并降低背景噪音，提高數據信噪比。
3、 采用在同步輻射實(shí)驗裝置上所使用的先進(jìn)旋轉中心定位法，在此基礎上進(jìn)行優(yōu)化。利用五維電動(dòng)樣品位移臺，通過(guò)軟件操作，實(shí)現樣品掃描對中。具有樣品到探測器距離固定不變、數據精確等優(yōu)勢，避免用戶(hù)操作時(shí)輻照損傷。
液態(tài)金屬I(mǎi)n靶E1型X射線(xiàn)光源參數 |
高通量模式 | 焦斑大小 | 90 μm FWHM |
通量 | 1.9 × 108 ph/s |
發(fā)散度 | 3.15 mrad |
小焦斑模式 | 焦斑大小 | 15 μm FWHM |
通量 | 1.8 ×107 ph/s |
發(fā)散度 | 12.6 mrad |
特殊模式 | 焦斑大小 | 10 μmFWHM |
通量 | 1.0 ×106 ph/s |
發(fā)散度 | 2 mrad |
位移臺參數 |
| XY軸重復定位精度±0.2 μm；行程±10 mm； Z軸重復定位精度≤±0.2 μm；行程±10 mm； Ф 軸重復定位精度≤0.002°；行程±135°； X1Y1重復定位精度±0.2 μm；行程±12.5 mm； |
0551-63868060